BXR-606BROHS无卤分析仪_ROHS检测仪_ROHS2.0_合金检测仪_镀层测厚仪

产品介绍：

1.采用美国Amptek SDD高灵敏度探测器，分辨率高，探测范围广，涵盖RoHS、卤素、镀层、合金（含贵金属）及各种常规材料分析的基本要求。

2.配置先进的DPP数字多道信号集成处理器，比普通模拟多道信号处理器性能佳，尤其在高计数率时分辨率高（如Hg和CI等），高达80MHz的数据传输速度使分析时间变短，尤其在测量重复性和长期稳定性上有提高。

3.内置高清摄像系统，清晰观察样品，准确定位样品测试区域。

4.配套FP测量软件，集成多种谱图处理算法和基体校正算法，有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰，使低含量和痕量元素的检测结果趋近准确，更加接近真值水平。

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分析原理	能量色散X射线荧光分析法
分析元素	铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬(Cr)、氯（Cl）、溴（Br），其中氯（Cl）仅作为定性测定分析。
工作条件	工作温度：10-30℃
	相对湿度：≤70%
	电源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz
	测定条件：大气环境
技术指标	检出下限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≦2 ppm
	仪器均质材料测试可靠性要求：20ppm以下50%以内,20ppm以上30%以内
	测试样品时间：30－900秒可调
	BXR 606B	1ppm-99.99%
	样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
	X射线管：靶材/Mo 管电压/5～45kV 管电流/****1～1000 μA
	照射直径：2、5、8mm
	滤光片：新型滤光片自动选择
	样品观察：USB 2.0界面 30倍130万像素彩色CCD摄像机
	定量分析：理论Alpha系数法(NBS-GSC法)
	功率：0.35kW
	重量：50Kg
	外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm
	BXR 606B	美国Amptek SDD高灵敏度探测器
	钨（W）靶特殊防辐射处理X光光管
	美国Spellman高压电源（RSD<0.25%）
	全封闭铅板双样品盖
	高精密CCD摄像机(130万像素)
	Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件
	测试用样品杯1个，测试用塑料薄膜数张
	欧盟EC681标样一片、银校正标样一片